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膜厚测试—广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

膜厚仪的特点有哪些

膜厚仪是薄膜厚度测量仪的简称，是一种用来在线并定量的测量透光或者半透光的各种薄膜厚度的仪器仪表，通常采用光干涉原理测量薄膜厚度。

软件操作简单，测速快：膜厚测量仪操作非常简单，测量速度快：100ms-1s.

软件带有构建材料结构的拓展功能，可对单/多层薄膜数据进行拟合分析，可对薄膜材料进行预先模拟设计.

软件带有可升级的扫描功能，进行薄膜二维的测试，并将结果以2d或3d的形式显示.软件其他的升级功能还包括在线分析软件，远程控制模块等

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测厚仪的检测方法及测量注意事项

测厚仪按照测量方式可分为接触式和非接触式。接触式测厚仪通过仪器与样品表面接触测量，从而得知测量结果。而有些样品的表面容易破坏不宜测量，则衍生出各种非接触式测量方法，测厚仪的检测方法及测量注意事项。

涂层测厚仪

采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以*地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂层厚度。

测厚仪测量注意事项如下：

1、时间停止试验应注意金属磁性和名义粗糙度应与试件组的规模。

2、头部的侧面和垂直于名称样品的测量。

3、测量中应注意基体金属的临界厚度，膜厚测试，如果厚度的测量不受基体金属厚度的影响。

4、测量应注意试样的曲率对测量的影响。因此，在测量的测量弯曲的名称可以不依赖。

5、小心不测内眼角靠近试样的边缘检测，因为试样形状改变个人的厚度是名非常敏感。

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