膜厚分析仪—广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
反射膜厚仪
紧凑型---反射膜厚仪,利用光学干涉原理,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱,快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。
光学薄膜测量解决方案;
非接触、非破坏测量;
重点算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析;
是膜厚重复性测量精度:0.02nm
配置灵活、支持定制化
产品特点
采用高强度卤素灯光源,光谱覆盖深紫外到近红外范围;
采用光机电高度整合一体化设计,体积小,操作简便;
基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理,轻松解析单层薄膜到多层;
欢迎咨询景颐光电了解更多膜厚分析仪
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影响涂层测厚仪测量精度的因素:
1、基体金属磁性质?在热处理和冷加工的过程中,部分基体金属磁性性质会发生变化,应当在测试之前使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;也可用待涂覆试件进行校准。
2、基体金属电性质在热处理过程中,不同的基体金属导电性会发生不一样的变化,从而使基体金属电性质产生变化,应当在测试之前使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
3、基体金属厚度每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,非接触膜厚分析仪,测量就不受基体金属厚度的影响。
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影响国产膜厚测量仪示值的因素
国产膜厚测量仪采用新剂高性铁、们低功耗的处理器技术,基于超声被扰量原理,可以现量金属队其它多种材质的国度,膜厚分析仪价格,并可以材抵的声送进行扰量。可次性产备中多箱管首逝和压力容器进行厚度恻星,在使用过程中受瘸后的减薄程度,还可以对多种板材和多种加工零件作测量。
影响国产膜厚测量仪示值的因素
工件表面粗糙度过大,造成探头与接触面耦合效果差,反射回波低,分光膜厚分析仪,甚至无法接收到回波信号。
对于表面锈蚀,耦合效果极差的在役设备、管道等可通过砂、磨、挫等
方法对表面进行处理,降低粗糙度,安阳膜厚分析仪,同时也可以将氧化物及油漆层去掉,露出金属光泽,使探头与被检物通过耦合剂能达到---的耦合效果。
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